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電子芯片高低溫沖擊試驗箱

更新時間:2021-10-22   點擊次數(shù):688次

一、簡介:豪恩系列高低溫沖擊試驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測試設(shè)備,用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在zuì短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗箱滿足的試驗方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗。

二、用途 :豪恩系列高低溫沖擊測試箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具。

三、滿足標(biāo)準(zhǔn):GB 10589-89、GB 10592-89、GB 11158-89、GB/T 5170.2-1996GB 2423.1-89、GB 2423.2-89GB 2424.1-89、GJB 150.5-86、QC/T 17-92IEA 364-32、IEC 68-2-14等。

四、性能技術(shù)參數(shù):

規(guī)格型號:HE-LR-50/80/100/150/252/480

容量:50升、80升、100升、150升、252升、480

內(nèi)箱尺寸(寬**深):400X350X360、500X400X400、500X500X400600X500X500、700X600X600、800X800X750MM

外形尺寸(寬**深):1560X1950X14001700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X16001900X2370X1700、2000X2570X1850MM

試驗溫度范圍:S表示:-40℃~+150

              W表示:-55℃~+150

              L表示:-65℃~+150

低溫槽溫度范圍:-55℃~-10℃、-70℃~-10℃、-80℃~-10

高溫槽溫度范圍:+60℃~+200,升溫速率平均5/MIN

溫度波動度:±2.0

溫度轉(zhuǎn)換時間:10S

溫度穩(wěn)定時間:5MIN,常溫~zuì低溫度5MIN,常溫~zuì高溫度5MIN

內(nèi)箱材質(zhì):SUS304鏡面不銹鋼

外箱材質(zhì):SUS201紗面不銹鋼或電解鋼板噴塑處理

冷凍系統(tǒng):冷凍機組為復(fù)疊式,進口壓縮機,R404A、R23A環(huán)保冷媒

冷卻方式:水冷或風(fēng)冷(可選擇)

控制器系統(tǒng):彩色觸摸式控制器

標(biāo)配:測試1個,樣品架2

使用電源:AC 三相 五線 380V 50HZ

保護裝置:無熔絲開關(guān),壓縮機過載保護,超溫保護,風(fēng)機過載保護,保險絲

聯(lián)機軟件:R232、485USB接口

五、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

  1GB/T2423.1-2001低溫試驗方法;

  2GB/T2423.2-2001;

  3GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N;

  4. GJB150.3-86;

  5. GJB150.4-86;

  6. GJB150.5-86;

  7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗;

  8GJB360.7-87溫度沖擊試驗;

  9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;

  10SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式;

  11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;

  12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;

  10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則;

  11GB/T 2423.22-2002溫度變化;

  12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則;

  13EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

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